导流能力(RC)测试

基于储层类比芯片的降阻剂筛选与导流能力评价

案例摘要

为优化压裂作业中降阻剂的选择与应用,芯域流光采用储层类比芯片平台对多种降阻剂体系开展快速评价。在模拟储层温度、高矿化度地层水及支撑剂铺置条件下,通过微纳流控实验分析流体返排行为、导流能力恢复及地层伤害特征,建立不同产品性能差异的量化评价方法。该技术能够快速识别高性能降阻剂体系,为压裂液优化、地层伤害控制及现场作业决策提供可靠依据。

技术关键词

储层类比芯片
微纳流控
降阻剂评价
导流能力恢复
压裂液优化
流体可视化
地层伤害评价
支撑剂铺置
返排性能分析
油藏工程
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